Ez a munka bemutatja, hogy az anódos sztripping voltammetria mikrolemez elektródon lehetővé teszi az ezüst kimutatását hozzáadott hordozó elektrolit hiányában. A voltammetria azonban alacsony hordozós körülmények között torzul. Félanalitikus modellt dolgoztunk ki a támogató elektrolit hiányának a voltammetriás válaszokra gyakorolt hatásának vizsgálatára. Először a kettős réteg kinetikájának megváltozását vizsgáljuk. Különösen azt mutatjuk ki, hogy a klasszikus Frumkin-korrekció nem tudja megmagyarázni a voltammetria torzult alakját, és csak a voltammetriás csúcsok eltolódásának legfeljebb ~50%-át magyarázza. Másodszor, a Frumkin-korrekcióhoz képest az ohmos csepp sokkal jelentősebben járul hozzá a csúcspotenciál eltolódásához és a torz hullámformához az elektrolitkoncentráció csökkentésekor. A Newman által megjósolt szűkületellenállás alapján meghatározott Ohmikus csepp ésszerű közelítést ad az oldatellenállásokhoz, különösen 200 μM feletti ionerősségnél. Deionizált vízben vagy ultraalacsony vezetőképességű vízben, amelynek ionerőssége szubmikromoláris szintű, az ellenállásokban akár 25-szörös eltérést figyeltek meg. Ez az eltérés valószínűleg a Newman-modell kísérleti rendszerre való alkalmazásakor tett feltételezésekből adódik. Végül megmutatjuk, hogy egy olyan modell, amely egyszerre veszi figyelembe az elektródok kinetikáját és az ohmos csepphatást, konzisztens illeszkedést ad a kísérleti adatokhoz, ha az ellenállások értékeit megfelelően kiigazítjuk, hogy figyelembe vegyük a szűkületellenállások közelítésének pontatlanságát.